內(nèi)外兼修，江波龍DDR4內(nèi)存已通過KTI專項測試認(rèn)證

江波龍電子

2020-12-01 09:35 6099

近日，江波龍向KTI提供了FORESEE DDR4 UDIMM樣品，不僅通過了KTI的專項測試認(rèn)證，還被評為“優(yōu)質(zhì)品”。

深圳2020年12月1日 /美通社/ -- 繼推出全系列容量的DDR4內(nèi)存和基于長鑫存儲DRAM資源的國產(chǎn)化內(nèi)存后，江波龍在內(nèi)存測試技術(shù)上不斷探索，除了自主開發(fā)基于10nm ASIC的測試系統(tǒng)外，也在積極尋找專業(yè)測試機(jī)構(gòu)的認(rèn)證合作，力求在質(zhì)量上有新的突破。

江波龍DDR4內(nèi)存已通過KTI專項測試認(rèn)證

上個月，江波龍加入了魯大師組建的“中國智能硬件評測基準(zhǔn)聯(lián)盟（CIHEBA）”，意味著江波龍的測試技術(shù)得到了專業(yè)機(jī)構(gòu)的認(rèn)可。

除此之外，江波龍和皇虎測試科技（KingTiger Technology，以下簡稱“KTI”）開展了多次內(nèi)存技術(shù)交流活動，并簽署了戰(zhàn)略性測試框架協(xié)議，未來將攜手完善內(nèi)存測試技術(shù)，聯(lián)合制定內(nèi)存測試技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。

內(nèi)存測試設(shè)備國際知名品牌KingTiger Technology，專注內(nèi)存測試領(lǐng)域三十余年，擁有全套核心專利技術(shù)，以“邏輯功能測試與系統(tǒng)應(yīng)用測試并重，行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)與設(shè)計規(guī)范雙重把關(guān)”為理念。

其在中國航天集團(tuán)的支持下，建立了航天級DRAM測試裝備研發(fā)中心及測試服務(wù)中心，主要致力于內(nèi)存器件測試認(rèn)證和失效模式分析，以及量產(chǎn)內(nèi)存品質(zhì)篩選服務(wù)，并與各大廠商建立聯(lián)合機(jī)制，被視為內(nèi)存測試的權(quán)威機(jī)構(gòu)。

Specification
System	KT-4MG+
Testing Speed	3.2GHz
Testing Scan Rate	Full cell cover
ATE Function Test	YES
Application Test	YES
Parameter Testing	I/O Timing/Voltage/IDD (DC/AC)
Testing Function	Device Profiling

KTI測試系統(tǒng)特點(diǎn)

近日，江波龍向KTI提供了FORESEE DDR4 UDIMM樣品，不僅通過了KTI的專項測試認(rèn)證，還被評為“優(yōu)質(zhì)品”。

KTI產(chǎn)品質(zhì)量認(rèn)證證書

下面為大家一一展示江波龍內(nèi)存產(chǎn)品KTI測試認(rèn)證的詳細(xì)情況：

檢測項目	認(rèn)證測試結(jié)果
核心參數(shù)Profiling	特性符合JEDEC標(biāo)準(zhǔn)	特性符合原廠設(shè)計規(guī)范
Idd 實時功耗測量	與原廠特性指標(biāo)吻合
I/O信號質(zhì)量評價	DRAM有效訪問窗口的寬度及信號質(zhì)量均表現(xiàn)優(yōu)秀
ATE功能測試	常規(guī)參數(shù)測試PASS	加嚴(yán)條件測試PASS
Application應(yīng)用測試	常規(guī)參數(shù)測試PASS	加嚴(yán)條件測試PASS
高溫老化測試	常規(guī)參數(shù)測試PASS	加嚴(yán)條件測試PASS
結(jié)論	特性優(yōu)于JEDEC標(biāo)準(zhǔn)，顆粒一致性強(qiáng)，能抵受極端環(huán)境考驗 KTI認(rèn)證評為優(yōu)等品

測試項目及測試結(jié)果

江波龍DDR4內(nèi)存已通過KTI專項測試認(rèn)證

綜上可知，江波龍這款內(nèi)存產(chǎn)品在KTI測試上的每一個項目，都表現(xiàn)得十分優(yōu)越。

而這款FORESEE DDR4 UDIMM作為江波龍內(nèi)存產(chǎn)品線的標(biāo)準(zhǔn)型號，搭載了三星Original等級的DRAM顆粒，采用了高端PCB工藝材質(zhì)（30u金手指鍍金工藝），由國際一線企業(yè)生產(chǎn)制造，是江波龍為行業(yè)用戶潛心打造的高品質(zhì)內(nèi)存。

Test Item	Authentication Test Results
Core parameter profiling	Features comply with JEDEC standards	Features comply with OEM design specifications
Idd real-time power consumption measurement	Consistent with OEM feature index
I/O signal quality evaluation	DRAM valid access window width and signal quality are excellent
ATE functional test	General parameter test PASS	Test under more stringent conditions PASS
Application test	General parameter test PASS	Test under more stringent conditions PASS
High temperature aging test	General parameter test PASS	Test under more stringent conditions PASS
Conclusion	Features are above JEDEC standards, strong consistency of particles, capable of withstanding extreme environments. Rated by KTI as an excellent product.